Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

CMOIRENC_05A9702.jpg Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesCarte PCIe40 d'acquisition de données de l'expérience LHCbBanc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesCarte PCIe40 d'acquisition de données de l'expérience LHCbBanc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesCarte PCIe40 d'acquisition de données de l'expérience LHCb

Carte PCIe40 d'acquisition de données de l'expérience LHCb