Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

1_c_p_diffractometre_rayonX_DRX__00233.jpg Bâti TDSMiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Bâti TDSMiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Bâti TDSMiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Bâti TDSMiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)

Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)


Modèle : Panalytical X’Pert PRO
– Détermination de la structure cristalline et de la composition élémentaire.
– détermination de la densité, épaisseur et rugosité de couches minces (submicron) = Réflectométrie .
– Texture de la surface, mesure de contraintes.

Auteur
Dominique Longieras / IJCLab
Dimensions
6720*4480
Fichier
1_c_p_diffractometre_rayonX_DRX__00233.jpg
Poids
2103 Ko
Visites
255
Téléchargements
0

Données EXIF

Make
Canon
Model
Canon EOS R
ExposureTime
1/80
FocalLength
37/1
FNumber
45/10
ExposureBiasValue
0/1
ISOSpeedRatings
2500
DateTimeOriginal
2023:02:21 14:54:53
ExposureProgram
4
Flash
0
MeteringMode
3

Données IPTC

iptc_Date_Created
20230221
iptc_Time_Created
145453+0100
iptc_By_line
com-IJCLab