Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

Accueil \ Résultats de recherche \

Microscope confocal

1_c_p_microscope_confocal_00236.jpg Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)

Microscope confocal


Modèle : Keyence VK-X200
Image 3D de la surface avec une grande profondeur de champs.
Mesures non destructives du profil et de la rugosité de la surface.
Caractéristiques :
– Laser violet 408 nm
– Résolution latérale 130nm
– Résolution profondeur 0,5nm