Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

Accueil \ Mot-clé électronique \

Microscope électronique

1_c_p_microscope_electronique_00088.jpg Le Département Électronique étudie, développe, produit et intègre les instrumentations électroniques spécifiques liées aux expériences et plateformes d'IJCLabMiniaturesRéalisation de bancs de test d'acquisition de données pour l'expérience ATLAS Calorimètre à Argon liquide afin de tester les performances software, firmware et hardware de cartes électroniques (FELIX + LATOME)Le Département Électronique étudie, développe, produit et intègre les instrumentations électroniques spécifiques liées aux expériences et plateformes d'IJCLabMiniaturesRéalisation de bancs de test d'acquisition de données pour l'expérience ATLAS Calorimètre à Argon liquide afin de tester les performances software, firmware et hardware de cartes électroniques (FELIX + LATOME)Le Département Électronique étudie, développe, produit et intègre les instrumentations électroniques spécifiques liées aux expériences et plateformes d'IJCLabMiniaturesRéalisation de bancs de test d'acquisition de données pour l'expérience ATLAS Calorimètre à Argon liquide afin de tester les performances software, firmware et hardware de cartes électroniques (FELIX + LATOME)Le Département Électronique étudie, développe, produit et intègre les instrumentations électroniques spécifiques liées aux expériences et plateformes d'IJCLabMiniaturesRéalisation de bancs de test d'acquisition de données pour l'expérience ATLAS Calorimètre à Argon liquide afin de tester les performances software, firmware et hardware de cartes électroniques (FELIX + LATOME)

La particularité du microscope électronique en transmission (MET) de la plateforme JANNus-SCALP est son couplage aux accélérateurs d'ions ARAMIS et IRMA dans le hall expérimental JANNuS-Orsay, permettant l'implantation ionique et l'irradiation simultanées de matériaux in situ dans le microscope.
La transmission (MET) couplé à l'implanteur 190 KV IRMA et à l'accélérateur 2 MV ARAMIS de la plateforme, permettant l'observation et la caractérisation in situ à l'échelle nanométrique des modifications structurales et chimiques induites par un ou deux faisceaux d'ions dans un solide.

Auteur
Patrick Dumas
Dimensions
2048*1365
Fichier
1_c_p_microscope_electronique_00088.jpg
Poids
774 Ko
Visites
576
Téléchargements
0