Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

1_c_p_diffractometre_rayonX_DRX__00232.jpg 1 c p quadrupole radiofrequence 00253Miniatures1 c p quadrupole radiofrequence 002541 c p quadrupole radiofrequence 00253Miniatures1 c p quadrupole radiofrequence 002541 c p quadrupole radiofrequence 00253Miniatures1 c p quadrupole radiofrequence 002541 c p quadrupole radiofrequence 00253Miniatures1 c p quadrupole radiofrequence 00254

Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)


Modèle : Panalytical X’Pert PRO
– Détermination de la structure cristalline et de la composition élémentaire.
– détermination de la densité, épaisseur et rugosité de couches minces (submicron) = Réflectométrie .
– Texture de la surface, mesure de contraintes.