Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

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Microscope confocal

1_c_p_microscope_confocal_00236.jpg Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesSpectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)

Microscope confocal


Modèle : Keyence VK-X200
Image 3D de la surface avec une grande profondeur de champs.
Mesures non destructives du profil et de la rugosité de la surface.
Caractéristiques :
– Laser violet 408 nm
– Résolution latérale 130nm
– Résolution profondeur 0,5nm