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Microscope Electronique à Balayage (MEB)

1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00229.jpg Bâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseMiniaturesBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseMiniaturesBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseMiniaturesBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masseMiniaturesBâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masse

Microscope Électronique à Balayage (MEB)

Modèle : ZEISS Sigma300.
Source électronique
– Canon à effet de champs.
– Haute Tension 0,1 à 30 kV.
– Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV.
– Courant de sonde : 4 pA à 100 nA.
Détecteurs
Imagerie
– Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens
– Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE
Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)