Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

Accueil \

Microscope Electronique à Balayage (MEB)

1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00230.jpg Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)

Microscope Électronique à Balayage (MEB)


Modèle : ZEISS Sigma300.
Source électronique
– Canon à effet de champs.
– Haute Tension 0,1 à 30 kV.
– Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV.
– Courant de sonde : 4 pA à 100 nA.
Détecteurs
Imagerie
– Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens
– Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE
Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)