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Microscope Electronique à Balayage (MEB)
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Microscope Électronique à Balayage (MEB)
Modèle : ZEISS Sigma300.
Source électronique
– Canon à effet de champs.
– Haute Tension 0,1 à 30 kV.
– Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV.
– Courant de sonde : 4 pA à 100 nA.
Détecteurs
Imagerie
– Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens
– Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE
Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)
- Author
- Dominique Longieras / IJCLab
- Created on
- Tuesday 21 February 2023
- Posted on
- Wednesday 22 November 2023
- Dimensions
- 6720*4480
- File
- 1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00230.jpg
- Filesize
- 1376 KB
- Keywords
- campus d'Orsay, CNRS, detecteurs d'electrons, électronique, IJCLab, laboratoire des 2 infinis irene joliot-curie, microscope, plateforme Vide & Surfaces, rayons X
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