Microscope Electronique à Balayage (MEB)

17/18

✔ M - moyen (792 x 528)
✔ L - grand (1008 x 672)
✔ XL - très grand (1224 x 816)
✔ XXL - énorme (1656 x 1104)

$Microscope Électronique à Balayage (MEB) Modèle : ZEISS Sigma300. Source électronique – Canon à effet de champs. – Haute Tension 0,1 à 30 kV. – Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV. – Courant de sonde : 4 pA à 100 nA. Détecteurs Imagerie – Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens – Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)$

Microscope Électronique à Balayage (MEB)

Modèle : ZEISS Sigma300.
Source électronique – Canon à effet de champs. – Haute Tension 0,1 à 30 kV. – Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV. – Courant de sonde : 4 pA à 100 nA.
Détecteurs Imagerie – Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens – Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS) Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)

Auteur: Dominique Longieras / IJCLab
Créée le: Mardi 21 Février 2023
Ajoutée le: Mercredi 22 Novembre 2023
Dimensions: 6720*4480
Fichier: 1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00230.jpg
Poids: 1376 Ko
Mots-clés: campus d'Orsay, CNRS, detecteurs d'electrons, électronique, IJCLab, laboratoire des 2 infinis irene joliot-curie, microscope, plateforme Vide & Surfaces, rayons X
Albums: Laboratoires de recherche \ IJCLab - Laboratoire de Physique des 2 Infinis Irène Joliot-Curie \ Pôles de Recherche \ Physique des Accélérateurs \ Plateforme Vide & Surfaces / MAVERICS - MATERIALS-VACUUM-SUPERCONDUCTING-RF
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