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Microscope Electronique à Balayage (MEB)

1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00230.jpg Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)MiniaturesMicroscope Electronique à Balayage (MEB)

Microscope Électronique à Balayage (MEB)


Modèle : ZEISS Sigma300.
Source électronique
– Canon à effet de champs.
– Haute Tension 0,1 à 30 kV.
– Résolution latérale 1,1 nm à 20 kV.
– Courant de sonde : 4 pA à 100 nA.
Détecteurs
Imagerie
– Détecteurs d’électrons secondaires : SE2 et InLens
– Détecteur d’électrons retro-diffusés : BSE
Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
Diffraction d’électrons retro-diffusés (EBSD)

Auteur
Dominique Longieras / IJCLab
Dimensions
6720*4480
Fichier
1_c_p_microscope_electronique_balayage_MEB_00230.jpg
Poids
1376 Ko
Visites
238
Téléchargements
0

Données EXIF

Make
Canon
Model
Canon EOS R
ExposureTime
1/2
FocalLength
105/1
FNumber
20/1
ExposureBiasValue
0/1
ISOSpeedRatings
200
DateTimeOriginal
2023:02:21 15:01:26
ExposureProgram
4
Flash
0
MeteringMode
3

Données IPTC

iptc_Date_Created
20230221
iptc_Time_Created
150126+0100
iptc_By_line
com-IJCLab