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Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53

136_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Inspection à la loupe numérique des soudures de la carte Intermezzo (©CPPM) de retour de câblage par un prestataire pour l'expérience ATLASMiniaturesPuce silicium Shunt LDO (©CPPM)Inspection à la loupe numérique des soudures de la carte Intermezzo (©CPPM) de retour de câblage par un prestataire pour l'expérience ATLASMiniaturesPuce silicium Shunt LDO (©CPPM)Inspection à la loupe numérique des soudures de la carte Intermezzo (©CPPM) de retour de câblage par un prestataire pour l'expérience ATLASMiniaturesPuce silicium Shunt LDO (©CPPM)

Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
600*900
Fichier
136_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
189 Ko
Mots-clés
CPPM, Puce, RD53
Visites
355
Téléchargements
0

Données EXIF

Make
Canon
Model
Canon EOS 5D Mark IV
ExposureTime
1/50
FocalLength
26/1
FNumber
9/1
ExposureBiasValue
0/1
ISOSpeedRatings
1600
DateTimeOriginal
2020:11:25 12:59:26
ExposureProgram
1
Flash
16
MeteringMode
5

Données IPTC

iptc_Date_Created
20201125
iptc_Time_Created
125926+0000
iptc_By_line
MOIRENC_CAMILLE