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Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53

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Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
600*900
Fichier
136_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
189 Ko
Mots-clés
CPPM, Puce, RD53
Visites
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