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Puce silicium Shunt LDO (©CPPM)

139_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesInspection à la loupe numérique des soudures de la carte Intermezzo (©CPPM) de retour de câblage par un prestataire pour l'expérience ATLASBanc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesInspection à la loupe numérique des soudures de la carte Intermezzo (©CPPM) de retour de câblage par un prestataire pour l'expérience ATLAS

Puce silicium Shunt LDO (©CPPM) en technologie TJ180nmn micro-câblée sur circuit imprimé pour des tests de caractérisation de la technologie Depleted CMOS en vue de futurs projets tels que Belle II

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
139_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
121 Ko
Mots-clés
capteur CMOS, CPPM, Puce
Visites
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