Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

139_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesPuce prototype Monitoring ADC (©CPPM)Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesPuce prototype Monitoring ADC (©CPPM)

Puce silicium Shunt LDO (©CPPM) en technologie TJ180nmn micro-câblée sur circuit imprimé pour des tests de caractérisation de la technologie Depleted CMOS en vue de futurs projets tels que Belle II

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
139_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
121 Ko
Mots-clés
capteur CMOS, CPPM, Puce
Visites
340
Téléchargements
0

Données EXIF

Make
Canon
Model
Canon EOS 5D Mark IV
ExposureTime
1/15
FocalLength
100/1
FNumber
63/10
ExposureBiasValue
0/1
ISOSpeedRatings
800
DateTimeOriginal
2020:11:25 13:05:15
ExposureProgram
1
Flash
16
MeteringMode
5

Données IPTC

iptc_Date_Created
20201125
iptc_Time_Created
130515+0000
iptc_By_line
MOIRENC_CAMILLE