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Puce silicium Shunt LDO (©CPPM)
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Puce silicium Shunt LDO (©CPPM) en technologie TJ180nmn micro-câblée sur circuit imprimé pour des tests de caractérisation de la technologie Depleted CMOS en vue de futurs projets tels que Belle II
- Auteur
- Camille Moirenc
- Créée le
- Vendredi 27 Novembre 2020
- Ajoutée le
- Lundi 12 Décembre 2022
- Dimensions
- 900*600
- Fichier
- 139_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
- Poids
- 121 Ko
- Mots-clés
- capteur CMOS, CPPM, Puce
- Albums
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