Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

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Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM)

149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Banc de test de la carte PCIe40 (©CPPM) et caractérisation des liens sériels optiques 5 Gbps pour l'expérience LHCbMiniaturesCarte PCIe40 (©CPPM)Banc de test de la carte PCIe40 (©CPPM) et caractérisation des liens sériels optiques 5 Gbps pour l'expérience LHCbMiniaturesCarte PCIe40 (©CPPM)

Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM) en technologie TSMC65nm lors de sa caractérisation avant son implantation dans la puce finale ITKPixV2 pour le projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
153 Ko
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384
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