Photothèque des laboratoires de l'IN2P3

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Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM)

149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Structure en treillis carbone ultra léger de l'expérience ATLAS/ITk-Pixel pour l'Upgrade du LHCMiniaturesMétrologie sans contact - Caractérisation de la planéité d'un disque en tuiles de verre pour l'expérience MadMaxStructure en treillis carbone ultra léger de l'expérience ATLAS/ITk-Pixel pour l'Upgrade du LHCMiniaturesMétrologie sans contact - Caractérisation de la planéité d'un disque en tuiles de verre pour l'expérience MadMax

Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM) en technologie TSMC65nm lors de sa caractérisation avant son implantation dans la puce finale ITKPixV2 pour le projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
153 Ko
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418
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