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Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM)

149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesBanc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53Miniatures

Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM) en technologie TSMC65nm lors de sa caractérisation avant son implantation dans la puce finale ITKPixV2 pour le projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
153 Ko
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