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Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM)

149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg Banc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53MiniaturesBanc de tests et caractérisation en irradiation des puces prototypes TSMC65nm (©CPPM) dans le cadre du projet RD53Miniatures

Puce prototype Monitoring ADC (©CPPM) en technologie TSMC65nm lors de sa caractérisation avant son implantation dans la puce finale ITKPixV2 pour le projet RD53

Auteur
Camille Moirenc
Dimensions
900*600
Fichier
149_MOIRENC_CPPM_NOV2020.jpg
Poids
153 Ko
Visites
400
Téléchargements
0

Données EXIF

Make
Canon
Model
Canon EOS 5D Mark IV
ExposureTime
1/30
FocalLength
100/1
FNumber
45/10
ExposureBiasValue
0/1
ISOSpeedRatings
1600
DateTimeOriginal
2020:11:25 14:18:40
ExposureProgram
1
Flash
16
MeteringMode
5

Données IPTC

iptc_Date_Created
20201125
iptc_Time_Created
141840+0000
iptc_By_line
MOIRENC_CAMILLE