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1 d p mesures caracterisations semi conducteurs 00150

1_d_p_mesures_caracterisations_semi_conducteurs_00150.jpg La solitude du concentrateurThumbnails5 d p carte electronique experience atlas 00222La solitude du concentrateurThumbnails5 d p carte electronique experience atlas 00222La solitude du concentrateurThumbnails5 d p carte electronique experience atlas 00222La solitude du concentrateurThumbnails5 d p carte electronique experience atlas 00222

Station sous pointes pour la caractérisation des semi-conducteurs.

Station Signatone WL350 pour des tests semi-automatiques de senseurs de des puces électroniques.
. Peut accueillir des galettes jusqu'à 12 pouces (300 mm).
. Possède un plateau thermique qui couvre la plage de température de -60˚C à +200˚C (avec surveillance de l’humidité), et qui peut aussi fournir de la haute tension jusqu’à 10 kV.
. On l’associe à un système de mesure Keithley 4200-SCS Semiconductor Characterization System avec 2 cartes 4200-SMU (mesures I-V, +/- 200 V) et une carte 4210-CVU (mesures C-V, 1 kHz - 10 MHz) et des sourcemètres Keithley 2657A (3 kV), et Keithley 2636B (+/- 200 V) (baie à gauche de la station).
. Peut réaliser des mesures de puce sur galette avec une carte à pointes, où le passage d’une puce à l’autre se fait de façon semi-automatique. Ce mouvement est piloté à distance soit depuis le système Keithley, soit avec un système d’acquisition spécifique (baie à droite de la station).