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- 1 d p plateforme instrumentale R&D silicium 00143
- 1 d p plateforme instrumentale R&D silicium 00144
- 1 d p metrologie micro vu 00149
- 1 d p mesures caracterisations semi conducteurs 00150
- 1 d p plateforme instrumentale R&D silicium 00142
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- 1 d p microscope camera VHX 700 00147
- 1 d p profilometre 00148
- 1 d p plateforme instrumentale R&D silicium 00146