Accueil 24
Date de création \ Tout \ Semaine 9 \ Mardi
- Microscope Electronique à Balayage (MEB)
- Microscope Electronique à Balayage (MEB)
- Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)
- Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)
- Diffractomètre à rayons X rasant (DRX)
- Microscope confocal
- Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
- Spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS)
- Bâti SEY
- Bâti TDS
- Bâti TDS
- Bâti TDS
- Bâti NEG
- Bâti NEG
- Bâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masse
- Bâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masse
- Bâti d'étalonnage de jauges et spectromètres de masse
- Bâti multi techniques d'analyses (ISIS)
- Laurence Marquet
- L'équipe pour l'expérience Jyvaskyla ©Subatech
- Entrée laboratoire
- Masterclass du Cern, en 2013, au LPNHE
- Masterclass du Cern, en 2013, au LPNHE
- L'énergie manquante